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日立 FT150荧光X射线镀层膜厚测量仪
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X荧光镀层测厚仪
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X荧光镀层测厚仪 Thick 600
Think600是集天瑞仪器多年镀层测厚检测技术和经验,以独特的产品配置、功能齐全的测试软件、友好的操作界面来满足金属镀层及含量测定的需要,人性化的设计,使测试工作更加轻松完成
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X荧光镀层测厚仪 Thick 800A
Thick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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ARL Optim’X 波长色散X射线荧光光谱仪
Scientific ARL OPTIM'X 分析仪是一款紧凑、快速、可靠的波长色散荧光光谱仪,并配置了专用固定分析通道。 Thermo Scientific ARL OPTIM'X 水泥分析仪可对
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ARL Optim’X波长色散X射线荧光光谱仪
Scientific AROPTIM'X 硫分析仪是一款紧凑、快速、可靠的波长色散荧光光谱仪,并配置了专用固定分析通道。Thermo Scientific AROPTIM'X 水泥分析仪可对
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ARL 9900 X射线荧光光谱仪
集成 XRD 功能的 Thermo Scientific ARL 9900 XRF 系列是一款高效的多功能 X 射线分析系统,兼具 XRF 和 XRD 技术,用于过程控制。ARL 9900 能够满足
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F50 光学膜厚测量仪
F50薄膜厚度测量仪自动化薄膜厚度绘图系统依靠F50先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试厚度
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